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廈門 集美區主營業務：
光譜儀/測量儀/電鏡/x射線探傷儀/粒度分析儀/臺階儀經營模式：
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詳細描述
日立 FIB-SEM三束系統NX2000 產品介紹： 追求最完美的TEM樣品制備工具 在尖端設備及高性能納米材料的評價和分析領域，FIB-SEM已成為不可或缺的工具。 近來，目標觀察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。 日立高新公司，整合了高性能FIB技術和高分辨SEM技術，再加上加工方向控制技術以及Triple Beam?＊1（選配）技術，推出了新一代產品NX2000 產品特點： 運用高對比度，實時SEM觀察和加工終點檢測功能，可制備厚度小于20 nm的超薄樣品 FIB加工時的實時SEM觀察＊2例 樣品：NAND閃存 加速電壓：1 kV FOV：0.6 μm 具體情況聯系詳談
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